Мекс (MeX) –Программа трехмерного анализа изображений неровной поверхности образцов для растрового электронного микроскопа.

МеХ позволяет реконструировать и визуализировать трехмерную поверхность на основе растровых электронно-микроскопических стереопар. МеХ позволяет выполнить анализ полученной трехмерной поверхности: рассчитать величину шероховатости и сглаженности (нормы EN ISO), рассчитать объем пор и выпуклостей; рассчитать, визуализировать и провести анализ поперечных профилей поверхности; выполнить измерения высоты неровностей поверхности и др.
Области применения:
• Количественная фрактография
• Контроль качества при производстве различных материалов
• Микротехнология
• Биология и медицина