Вакуумный пост JEE-420

Вакуумный пост JEE-420 предназначен для подготовки образцов электронной микроскопии. Он состоит из камеры испарения, автоматической вакуумной системы и системы электропитания. JEE-420 может быть использован для подготовки различных образцов,...

Компактный растровый электронный микроскоп JSM-6010 TouchScope

Компактный растровый электронный микроскоп с возможностью работы в различных средах от JEOL обеспечивает получение высококачественных изображений и микроанализ где бы вы в них не нуждались.

Возможности беспроводной связи делают...

Оже-микроанализатор JAMP-9500

Оже-микроанализаторы фирмы JEOL имеют аббревиатуру JAMP (JEOL Auger Micro Probe). В настоящее время фирмой JEOL прекращен выпуск модели JAMP-7810 с гексаборид-лантановым катодом в связи со все более ужесточающимися требованиями рынка в части...

Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F

Самое высокое в мире гарантируемое разрешение в просвечивающем растровом режиме с темнопольным детектором (STEM-HAADF) составляет 0,08 нм

Модель JEM-ARM200F, включающий корректор сферической аберрации для электронной...

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 с ускоряющим напряжением 120 кВ

Новейший просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 с высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 120 кВ и великолепные функции по получению оцифрованного изображения...

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100

JEM-2100 - аналитический электронный микроскоп, включающий не только базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, но также и систему компьютерного управления, в которую...

Растровые электронные микроскопы JSM-6610

Недорогие многоцелевые сканирующие (растровые) микроскопы JSM-6610– удобные, простые в управлении, исключительно надежные приборы с компьютерным контролем и превосходными техническими характеристиками. Каждый из микроскопов серии выпускается в...

Растровые электронные микроскопы серии JSM-6510

С июля 2008 г. одна из наиболее популярных серии микроскопов JEOL – JSM-6390 заменена новейшей серией моделей: JSM-6510 Недорогие многоцелевые сканирующие (растровые) микроскопы JSM-6510– удобные, простые в управлении, исключительно надежные...

Растровый аналитический электронный микроскоп JSM-7100F

Основной особенностью этого растрового электронного микроскопа является электронная пушка на базе катода Шоттки - особой конструкции пушка, "погружённая" в конденсорную линзу. Целью сочетания термополевого (Шоттки-) эмиттера и особой конструкции...

Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam с ионной пушкой для микротравления

Новая простая в эксплуатации система РЭМ/ФИП (Растровый электронный микроскоп/ионная пушка с Фокусированным Ионным Пучком) объединяет в себе ионную оптику и самую популярную в мире колонну РЭМ. Прибор JIB-4501 «Мультибим» обеспечивает высокую...

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F

Растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном...

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F

Растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном...

Система электронно-лучевой литографии JBX-5500FS

JBX-5500FS - cистема электронно-лучевой литографии для изготовления нанотехнологических приборов и радиоустройств СВЧ диапазона, радиолокации и др. Основные задачи и характеристики: • Применение нанотехнологий для создания устройств нового...

Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-5400

Модель JSPM–5400 - сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, включающий режим бесконтактной атомно-силовой микроскопии. Дополнительно включает в себя цифровой процесс обработки сигнала (DSP) для системы управления, осуществляемый...

Сканирующий зондовый сверхвысоковакуумный микроскоп JSPM-4500

JSPM-4500 является сверхвысоковакуумным сканирующим зондовым микроскопом (СВВ СЗМ), предназначенным для исследования поверхностей с высоким разрешением. Этот прибор может использоваться как отдельный прибор для лаборатории, которая...

Фотоэлектронный спектрометр JPS-9200

JPS-9200 Новый рентгено-фотоэлектронный рентгеновский спектрометр, используемый для микроанализа поверхности широкого набора типов образцов. Новый полусферический анализатор энергии электронов состоит из комбинации...

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230 Superprobe

Микроанализаторы JEOL JXA-8230 – новое поколение приборов этого класса. Их серийный выпуск начался в 2009г. В основе данной конструкции лежат идеи, реализованные еще в начале 80-х годов на базе микроанализаторв JCXA-733 (JCXA расшифровывается...

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530F Hyperprobe с термополевым источником электронов

На базе пушки с катодом Шоттки, обеспечивающий ток 200 нА высокой стабильности, и хорошо отработанной конструкции электронно-зондовых микроанализаторов серии JXA-8230 «Superprobe» фирмой JEOL разработан электронно-зондовый...

ЯМР спектрометры серии ECS

ЯМР спектрометры серии ECS разработаны для любых лабораторий, нуждающихся в надежной, простой рутинной ЯМР системе для изучения синтезируемых молекул и анализа смесей. В линейку моделей серии ECS входят ЯМР спектрометры с частотами 300 МГц и...