JEM-2100 - аналитический электронный микроскоп, включающий не только базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, но также и систему компьютерного управления, в которую может интегрироваться устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300) и электронный спектрометр потерь энергии (СПЭ) в любой комбинации.
• Высокая стабильность пучка: Высокая стабильность высокого напряжения и тока пучка, вместе с превосходной электронно-оптической системой, позволяет получать разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом).
• Новая конструкция шасси колонны: Новая конструкция шасси колонны существенно снижает влияние вибраций на прибор.
• Аналитический электронный микроскоп: В энергодисперсионнй системе микроанализа применен новый детектор, сконструированный для работы при телесном угле сбора 0,28 стерад и угле сбора 24.1, что позволяет производить высоко точный анализ и быстрый набор данных микроанализа.
• Столик образцов. Новый гониометрический столик образцов дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровом шкале.
• Возможность модернизации: Основная компьютерная система позволяет осуществлять управление и сбор данных в режиме ПРЭМ, ЭДС микроанализа и СПЭ, сохраняя при этом простоту управления всем аналитическим комплексом. Также, полученную информацию можно передать для дальнейшей ее обработки на другие персональные компьютеры по локальной сети.