Новейший просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 с высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 120 кВ и великолепные функции по получению оцифрованного изображения и расширяемый до аналитической конфигурации, является удобным прибором для применений в исследованиях биологических образцов, образцов полимеров и для материаловедения.

Новое программное обеспечение JENIE™ включенное в состав JEM-1400, дает предоставляет возможность обучения управлению прибором, что особенно важно для начинающих микроскопистов, но также дает возможность опытным пользователям наиболее эффективно использовать самые сложные рабочие функции прибора.

Рабочий графический интерфейс, написанные в среде Windows и использующий самые последние технологии Windows позволяет осуществлять дистанционное управление и коммуникацию между группами исследователей через TCP/IP протокол и Web-браузер.

Особенностью прибора является наличие в базовой конфигурации встроенной цифровой камеры нижнего расположения с разрешением 1,3 Мпикс, которая вместе с программой цифрового монтажа позволяет быстро и просто автоматически получать изображения с высоким разрешением (12-18 Мпикс) при полном отсутствием дефектов сшивки на границах отдельных кадров. Таким образом, даже в базовой конфигурации с высококонтрастным полюсным наконечником и встроенной цифровой камерой является идеальным многопользовательским электронным микроскопом для биомедицинских исследований.

Кроме того, при оснащении микроскопа растровой приставкой и энергодисперсионным спектрометром (ЭДС) данный микроскоп становится мощным недорогим прибором для исследователей в области материаловедения, металловедения и технологии полупроводниковых материалов и приборов. Наличие растровой приставки и ЭДС микроанализа позволяет выполнять элементный анализ в точке, вдоль линии, либо накапливать карты распределения элементов по образцу, а также получать изображения в прошедших через образец электронах, вторичных и отраженных электронах, и исследовать кристаллографическую структуру выделенных областей методом электронной дифракции.