РУС ENG
 
Interactive Corporation — японская торговая компания, основанная в 1993 году, поставляет высокотехнологичное научное и промышленное оборудование ведущих японских, европейских и американских производителей.
 
Interactive Corporation — авторизованный торговый агент компаний: JEOL Ltd., Oxford Instruments, Gatan, Ulvac-Riko, Nikon Instech, Yamazaki Mazak.
Авторизованный дилер JEOL Ltd в России и странах СНГ

Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F

Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F

Модель JEM-ARM200F, включающая корректор сферической аберрации для электронной оптической системы в качестве стандартного оборудования, достигает разрешения в растровом просвечивающем режиме (STEM-HAADF) 0,08 нм, что является наивысшим значением в мире среди серийных моделей электронных микроскопов. Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами. При тонкой фокусировке такого зонда микроскоп JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований.

 

Параметры Значения
Тип эмиттера термополевой катод Шоттки или высокостабильный "холодный" полевой эмиттер (на выбор пользователя)
Разрешение по точкам 0,19 нм (без TEM-корректора), 0,11 нм (с TEM-корректором)
Просвечивающий сканирующий режим разрешение 0,08 нм при использовании темнопольного детектора
Ускоряющее напряжение от 80 до 200 кВ
Диапазон увеличений от 50 до 2 000 000 в TEM-режиме, от 100 до 150 000 000 в STEM-режиме
Возможные аналитические методы (опции) энергодисперсионный микроанализ, спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
Корректор сферических аберраций для STEM-режима в базовой конфигурации
Корректор сферических аберраций для TEM-режима опция

 

 

Повышенная электрическая стабильность

 

Для достижения атомного разрешения источник высокого напряжения и блоки питания линз электронно-оптической системы должны быть высокостабильными. В микроскопе JEM-ARM200F флуктуации высокого напряжения и тока объективной линзы снижены на 50% по сравнению с обычными моделями, что существенно повышает электрическую стабильность всего микроскопа в целом. 

 

Повышенная механическая стабильность

 

Для обеспечения анализа и получения изображений на атомном уровне с использованием корректоров сферических аберраций для электронной оптики и проекционной системы, вибрации и дисторсии системы должны контролироваться также на атомном уровне. Прочность механической конструкции модели ARM 200F по сравнению с обычными ПЭМ была повышена путем увеличения диаметра колонны для улучшения ее жесткости и путем оптимизации структуры консоли, улучшающей механическую стабильность всей системы.

 

Широкий спектр аналитических возможностей в просвечивающем растровом режиме (STEM)

 

В модель одновременно могут устанавливаться: два вида темнопольных детекторов с различными углами детектирования в STEM режиме (один в стандартной комплектации), светлопольный детектор (стандартная комплектация), детектор отраженных электронов (опционально). Новая сканирующая система сбора изображения одновременно получает до 4-ёх различных сигналов и позволяет наблюдать 4 изображения одновременно.

 

Контроль влияния внешней среды

 

Вибрации и искажения на атомном уровне зачастую вызваны изменениями температуры и магнитных полей в комнате с микроскопом. ARM 200F экранирован от температурных и магнитных флуктуаций в стандартной комплектации. Колонна изолирована кожухом от температурных колебаний вызванных конвекцией воздуха в помещении.

 

Корректор сферических аберраций для системы формирования ПЭМ изображения (опционально)

 

При использовании корректора сферических аберраций для системы формирования изображения в ПЭМ режиме разрешение может быть улучшено до 0,11 нм.

 

Московское представительство компании Interactive Corporation
115191 Россия, Москва, ул. Большая Тульская, д.10, стр. 2, офис 222
тел/факс: +7 (495) 748 20 07, +7 (495) 737 51 68, e-mail: iac@microanalysis.ru