РУС ENG
 
Interactive Corporation — Японская торговая компания, основанная в 1993 году, поставляет высокотехнологичное научное и промышленное оборудование ведущих японских, европейских и американских производителей.

Interactive Corporation — Авторизованный торговый агент компаний:
JEOL Ltd., Oxford Instruments, Gatan, Rigaku, Nikon Instech, Yamazaki Mazak.



Авторизованный дилер JEOL Ltd в России и странах СНГ

Растровые электронные микроскопы JSM-6610

Растровые электронные микроскопы JSM-6610

Недорогие многоцелевые сканирующие (растровые) микроскопы JSM-6610– удобные, простые в управлении, исключительно надежные приборы с компьютерным контролем и превосходными техническими характеристиками. Каждый из микроскопов серии выпускается в двух модификациях – стандартной (высокий вакуум) и низковакуумной (LV). Последняя сочетает в себе возможности работы как в стандартном, так и в LV режимах. Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе биологические и полимерные материалы, стекла, нефтематеринские породы и т.д.

Каждый из приборов серии может оснащаться различными аналитическими приставками для определения химического состава (спектрометры с энергетической и волновой дисперсией), катодолюминесценции, кристаллической структуры и др.

В современных моделях предусмотрена возможность установки турбомолекулярного насоса и/или электронной пушки с гексаборид-лантановым катодом по желанию заказчика.

Параметры Значения
Тип источника электронов вольфрамовая нить, гексаборид-лантановый катод (опция)
Низковакуумный режим в моделях LV и LA
Пространственное разрешение 3 нм
Пространственное разрешение в низковакуумном режиме 4 нм
Энергия электронного луча от 300 эВ до 30 кэВ
Увеличение от 5 до 300 000 крат
Ток луча от 1 пА до 1 мкА
Детекторы SE для JSM-6610 и JSM-6610A (BE-опция); SE+BE для JSM-6610LV и JSM-6610LA
Аналитические приставки - опции система энергодисперсионного микроанализа, система волнодисперсионного микроанализа, система текстурного анализа поликристаллических образцов, спектральный анализ катодолюминесценции, охлаждающие (крио) и нагревающие столики образцов
Максимальный размер образца 200 мм диаметром, 80 мм толщиной
Столик образцов 5 координат, моторизован по всем осям
Система вакуумной откачки дифузионный насос
Система шлюзования опция

Микроскоп JSM-6610 (в отличие от JSM-6510), обладает камерой образцов большего размера и с большим количеством портов для одновременной установки различных аналитических приставок, кроме того, он оснащен моторизованным по 5-ти осям (X, Y, Z, наклон до 90º, вращение) столиком с компьютерным управлением. Порты микроскопа располагаются таким образом, что детектор вторичных электронов, ЭД-спектрометр, волновой спектрометр и система анализа дифракции электронов (EBSD) расположены в одной полусфере. Это дает уникальную возможность наблюдения и исследования образца с использованием одновременно всех детекторов и спектрометров. В микроскопах других моделей данного класса это невозможно.

LV и LA – модели РЭМ с переменным давлением вакуума, для исследований непроводящих образцов без напыления;
A и LA – Модели РЭМ включают полностью интегрированную систему ЭД микроанализа JED-2300 (один компьютер - два монитора). A- стандартная высоковакуумная модель