Растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме «Gentle Beam» (торможение электронов перед образцов и снижение энергии первичного пучка до 100 эВ).

В JSM-7500F используется особый электростатический фильтр внутри объективной линзы (r-фильтр) для фильтрации по энергии регистрируемых электронов. С помощью этого фильтра обеспечивается формирование сигнала изображения SE, BE, SE+BE с управляемой пропорцией долей отражённых и вторичных электронов.

Микроскоп может быть укомплектован системой энергодисперсионного микроанализа производства фирмы JEOL. В этом случае аббревиатура модели JSM-7500FA.

Просим обратить Ваше внимание на описание этой же модели микроскопа в разделе "Растровая электронная микроскопия".