РУС ENG
 
Interactive Corporation — Японская торговая компания, основанная в 1993 году, поставляет высокотехнологичное научное и промышленное оборудование ведущих японских, европейских и американских производителей.

Interactive Corporation — Авторизованный торговый агент компаний:
JEOL Ltd., Oxford Instruments, Gatan, Rigaku, Nikon Instech, Yamazaki Mazak.



Авторизованный дилер JEOL Ltd в России и странах СНГ

Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-5400

Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-5400

Модель JSPM–5400 - сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, включающий режим бесконтактной атомно-силовой микроскопии. Дополнительно включает в себя цифровой процесс обработки сигнала (DSP) для системы управления, осуществляемый системой полного компьютерного управления прибором с помощью интуитивно понятного графического пользовательского интерфейса (GUI).

 

Данный сканирующий зондовый микроскоп разработан с использованием встроенных функции, удовлетворяющих потребностям дополнительных режимов наблюдения, для простоты управления и с расширенным диапазоном функций.

 

Основные характеристики:

  • Встроен новый усилитель для атомно-силовой микроскопии с цифровой системой автоподстройки частоты. Данная функция позволяет проводить стабильные, воспроизводимые наблюдения на атомном уровне.
  • Интуитивно понятный GUI графический интерфейс пользователя на базе Windows XP позволяет Вам управлять системой без пользования инструкцией по эксплуатации.
  • Вы можете легко и быстро выполнять различные задания, такие как переустановка сканера и монтаж принадлежностей, в том числе держателя нагрева, используя автоматическую функцию распознавания сканера. 
  • Усиление механизма столика дает возможность получения стабильного и бесдрейфового изображения на предельных увеличениях.

Микроскоп JSPM-5400 обеспечивает атомное разрешение, он может работать при комнатной, повышенной и криогенной температуре, на воздухе, в вакууме и в жидкости, в условиях действия сильных магнитных и электрических полей, СВЧ- и оптического облучения и т.п.

Параметры Значения
Разрешение в АСМ режиме 1 ангстрем по X,Y; 0,2 ангстрема по Z
Разрешение в СТМ режиме 1 ангстрем по X,Y; 0,2 ангстрема по Z
Дрейф системы менее 0,5 ангстрем/сек
Бесконтактный АСМ режим частотного детектирования Топографическое изображение; Частотное изображение; Диссипативная зондовая микроскопия
Бесконтактный АСМ режим амплитудного детектирования Топографическое изображение; Фазовое изображение; Амплитудное изображение
Контактный АСМ режим Топографическое изображение; Силовое изображение; Контактное токовое изображение; FFM микроскопия
Спектроскопия в АСМ режиме Силовые кривые; Кривые силы трения; I-V спектроскопия
Другие АСМ режимы Измерение латеральных сил; Измерение вязкоупругости; Топографическое изображение SKPM; Магнито-силовая микроскопия; Электро-силовая микроскопия
СТМ режимы: Топографическое изображение; Токовое изображение; CITS; Спектроскопии I-V S-V I-S S-I
Диапазон сканирования зондом X,Y,Z 20 мкм х 20 мкм х 3 мкм (стандарт)
Размеры образца 10 мм х 10 мм х 3 мм (стандарт); 50 мм х 50 мм х 5 мм (максимальный)
Диапазон перемещения образца X,Y,Z 6 мм х 6 мм х 5 мм
Жидкостная ячейка опция
Нагрев и охлаждение образца от -143 до +500 градусов по Цельсию (опция)
Вакуумная откачка камеры образцов по запросу пользователя

 

Зондовыми методами можно исследовать самые разнообразные материалы: проводящие, диэлектрические, биологические и другие - без трудоемкой подготовки образцов. Они могут использоваться для локального определения атомных конфигураций, магнитных, электрических, тепловых, химических и других свойств поверхности. Очень важно, что помимо исследовательских функций сканирующая туннельная микроскопия может выполнять еще и активные - обеспечивать захват отдельных атомов, перенос их в новую позицию, атомарную сборку проводников шириной в один атом, локальные химические реакции, манипулирование отдельными молекулами.