Модель JSPM–5400 - сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, включающий режим бесконтактной атомно-силовой микроскопии. Дополнительно включает в себя цифровой процесс обработки сигнала (DSP) для системы управления, осуществляемый системой полного компьютерного управления прибором с помощью интуитивно понятного графического пользовательского интерфейса (GUI).
Данный сканирующий зондовый микроскоп разработан с использованием встроенных функции, удовлетворяющих потребностям дополнительных режимов наблюдения, для простоты управления и с расширенным диапазоном функций.
Основные характеристики:
- Встроен новый усилитель для атомно-силовой микроскопии с цифровой системой автоподстройки частоты. Данная функция позволяет проводить стабильные, воспроизводимые наблюдения на атомном уровне.
- Интуитивно понятный GUI графический интерфейс пользователя на базе Windows XP позволяет Вам управлять системой без пользования инструкцией по эксплуатации.
- Вы можете легко и быстро выполнять различные задания, такие как переустановка сканера и монтаж принадлежностей, в том числе держателя нагрева, используя автоматическую функцию распознавания сканера.
- Усиление механизма столика дает возможность получения стабильного и бесдрейфового изображения на предельных увеличениях.
Микроскоп JSPM-5400 обеспечивает атомное разрешение, он может работать при комнатной, повышенной и криогенной температуре, на воздухе, в вакууме и в жидкости, в условиях действия сильных магнитных и электрических полей, СВЧ- и оптического облучения и т.п.
| Разрешение в АСМ режиме |
1 ангстрем по X,Y; 0,2 ангстрема по Z |
| Разрешение в СТМ режиме |
1 ангстрем по X,Y; 0,2 ангстрема по Z |
| Дрейф системы |
менее 0,5 ангстрем/сек |
| Бесконтактный АСМ режим частотного детектирования |
Топографическое изображение; Частотное изображение; Диссипативная зондовая микроскопия |
| Бесконтактный АСМ режим амплитудного детектирования |
Топографическое изображение; Фазовое изображение; Амплитудное изображение |
| Контактный АСМ режим |
Топографическое изображение; Силовое изображение; Контактное токовое изображение; FFM микроскопия |
| Спектроскопия в АСМ режиме |
Силовые кривые; Кривые силы трения; I-V спектроскопия |
| Другие АСМ режимы |
Измерение латеральных сил; Измерение вязкоупругости; Топографическое изображение SKPM; Магнито-силовая микроскопия; Электро-силовая микроскопия |
| СТМ режимы: |
Топографическое изображение; Токовое изображение; CITS; Спектроскопии I-V S-V I-S S-I |
| Диапазон сканирования зондом X,Y,Z |
20 мкм х 20 мкм х 3 мкм (стандарт) |
| Размеры образца |
10 мм х 10 мм х 3 мм (стандарт); 50 мм х 50 мм х 5 мм (максимальный) |
| Диапазон перемещения образца X,Y,Z |
6 мм х 6 мм х 5 мм |
| Жидкостная ячейка |
опция |
| Нагрев и охлаждение образца |
от -143 до +500 градусов по Цельсию (опция) |
| Вакуумная откачка камеры образцов |
по запросу пользователя |
Зондовыми методами можно исследовать самые разнообразные материалы: проводящие, диэлектрические, биологические и другие - без трудоемкой подготовки образцов. Они могут использоваться для локального определения атомных конфигураций, магнитных, электрических, тепловых, химических и других свойств поверхности. Очень важно, что помимо исследовательских функций сканирующая туннельная микроскопия может выполнять еще и активные - обеспечивать захват отдельных атомов, перенос их в новую позицию, атомарную сборку проводников шириной в один атом, локальные химические реакции, манипулирование отдельными молекулами.