Interactive Corporation — японская торговая компания, основанная в 1993 году, поставляет высокотехнологичное научное и промышленное оборудование ведущих японских, европейских и американских производителей. Interactive Corporation — авторизованный торговый агент компаний: JEOL Ltd., Oxford Instruments, Gatan, Ulvac-Riko, Nikon Instech, Yamazaki Mazak. |
Оборудование для исследования новых материалов
Оборудование для исследования новых материалов
Система измерения коэффициента Зеебека ZEM-3Система представляет собой инфракрасную камеру, обеспечивающую быстрый равномерный нагрев исследуемого образца, нагревателя для создания температурного градиента, тоководов, зонда из двух термопар для регистрации температур и измерения разности... 
Система измерения температуропроводности и теплоёмкости методом лазерной вспышки TC-1200Система TC-1200 предназначена для измерения температуропроводности и теплоёмкости материалов методом лазерной вспышки. Метод предполагает импульсное облучение одной из сторон дисковидного образца и прецизионное измерение температуры второй стороны... 
Установка для измерения внутреннего трения IFT-1500MПрибор IFT-1500M разработан для измерения внутреннего трения металлических образцов, имеющих резонансную частоту в диапазоне 100..600 Гц, при температурах от комнатных до +600 °C неразрушающим методом. Образец закрепляется... 
Установка для испытания малых термоэлектрических модулей Mini-PEMУстановка разработана для измерения эффективности термоэлектрического преобразования модулей и пар термоэлектрических материалов. Обеспечиваемы максимальный градиент температуры до 500°С. 
Установка для испытания термоэлектрических модулей PEM-2Установка PEM-2 разработана для измерения эффективности термоэлектрического преобразования модулей с градиентом температуры до 800°С. За счёт использования высокоэффективного инфракрасного нагревателя с высокой степенью контроля и точности... 
Установка для испытания термоэлектрических модулей на воздухе F-PEMУстановка для испытания небольших термоэлектрических модулей на основе оксидных материалов, для которых невозможны испытания в безкислородных средах. Позволяет проводить длительные циклические испытания термоэлектрических модулей в условиях... 
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F
Растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца... |
© 1993—2018 Interactive Corporation.
Все права защищены
115191 Россия, Москва, ул. Большая Тульская, д.10, стр. 2, офис 222
тел/факс: +7 (495) 748 20 07, +7 (495) 737 51 68, e-mail: iac@microanalysis.ru